在本文中,我们模拟了eSADP, eSAQP和iSAOP模式选项,以实现8纳米半节距(HP)互连的制作。我们研究了工艺变化和图案敏感性对螺距行走和电阻性能的影响。还计算了8线CDs以及通过段电阻M2-via-M1的总体收益率,并对所有选项进行了比较。工艺灵敏度模拟结果使我们能够评估最稳健的选项为8纳米HP模式。
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